鎢燈絲掃描電鏡SEM是一款綜合能力優(yōu)秀的通用型立式鎢燈絲掃描電

鏡。電子槍雙陽極結(jié)構(gòu)，保證了低電壓下的分辨率和

更好的圖像信噪比。另外有諸多的可選配附件選擇，使得

SEM3200 成為了一款應(yīng)用廣泛的綜合分析儀器。

鎢燈絲掃描電鏡SEM

低電壓下智能輔助消像散* 雙陽極結(jié)構(gòu)預(yù)對中鎢燈絲* 支持低真空模式豐富的擴(kuò)展能力

中間陽極處于韋氏帽和陽極之間，在低壓下，可提高電子束的拔出效率，分辨率可提升10%，信噪比可提升30%。

碳材料樣品，低電壓下，穿透深度較小，可以獲取樣品表面真實形貌，細(xì)節(jié)更豐富。

高分子纖維類樣品，高壓會對樣品存在損傷，低電壓還原無損表面細(xì)節(jié)。

工作原理

• 電子發(fā)射：電子槍內(nèi)的鎢燈絲在高電壓作用下被加熱至熱激發(fā)狀態(tài)，發(fā)射出電子

• 電子束形成：發(fā)射出的電子經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)的加速和聚焦，形成細(xì)小的電子束

• 電子束掃描：電子束在掃描線圈產(chǎn)生的磁場控制下，在樣品表面逐點掃描

• 信號產(chǎn)生與收集：電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等物理信號，這些信號被探測器收集并放大，最終調(diào)制成圖像

• 材料科學(xué)：分析材料表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)和成分分布

• 生物科學(xué)：觀察細(xì)胞、組織和微生物的形態(tài)結(jié)構(gòu)

• 納米技術(shù)：研究納米顆粒的形貌和尺寸分布

• 半導(dǎo)體工業(yè)：檢測半導(dǎo)體器件的表面缺陷和線寬尺寸

• 環(huán)境科學(xué)：分析環(huán)境污染物的形態(tài)和成分