質譜分析過程中，當干擾離子質荷比（m/z）與待測離子重疊時就會產生質譜干擾，這是 ICP-MS分析的主要問題。幸運的是，現在對這些質譜干擾有更好的處理方法。扇形磁質譜的高分辨率可識別干擾離子和待測離子之間微小的質荷比差異，從而將二者進行物理分離。因此高分辨ICP-MS無需考慮樣品基體效應，可對元素周期表中幾乎所有元素進行精確的含量和同位素比值分析。高分辨ICP-MS的簡便性可提供分析性能，同時保持方法開發的直接可靠性。這使得Element系列HR-ICPMS成為研究和計量機構以及分析實驗室的分析測試平臺。

分析物離子與干擾離子的準確分離是進行可靠精確的多元素含量和同位素比值分析的前提。高質量分辨率是目前廣泛采用的質譜干擾分離手段。精密且穩定的高質量分辨率是Thermo Scientific Element XR 高分辨ICP-MS的獨到之處。當分析物離子與基體導致的干擾離子可實現直觀物理分離的情況下，分析人員無需事先了解樣品的基體情況。

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簡要描述：Thermo ScientificTM Element XRTM 電感耦合等離子體質譜儀具備去干擾能力，
從而確保高置信度的結果。針對痕量級別樣品可獲得超高靈敏度和可靠的多元素分析結
果，因此，無需復雜的樣品前處理和方法開發過程。

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