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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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蔡司GeminiSEM 460
FE-SEM滿足亞納米成像、分析和樣品靈活性的高要求
蔡司GeminiSEM可助您輕松實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)分辨率的成像。出色的成像和分析技術(shù)更使FE-SEM（場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡）如虎添翼。我們采用創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和全新樣品倉(cāng)設(shè)計(jì)，不僅操作更加簡(jiǎn)便，用途更加靈活多樣，還可為您帶來更高的圖像質(zhì)量。無需水浸物鏡即可拍攝低于1 kV的亞納米級(jí)圖像。探索蔡司Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三種設(shè)計(jì)：
l分析測(cè)試平臺(tái)的理想選擇——蔡司GeminiSEM 360
l實(shí)現(xiàn)高效分析——蔡司GeminiSEM 460
l表面成像的新標(biāo)準(zhǔn)——蔡司GeminiSEM 560
GeminisEM 460（場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡）專為應(yīng)對(duì)要求嚴(yán)苛的分析任務(wù)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高效分析和自動(dòng)化的工作流程。在面對(duì)顯微鏡領(lǐng)域充滿挑戰(zhàn)的分析任務(wù)時(shí)，其Gemini 2鏡筒能夠助您一臂之力，成像與分析條件可無縫切換。
?兼顧高分辨率和高電流
?定制自動(dòng)化工作流
?為您帶來更多可能性
兼顧高分辨率和高電流
? GeminiSEM 460專為應(yīng)對(duì)要求嚴(yán)苛的分析任務(wù)設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高效分析和自動(dòng)化的工作流程。
? 快速執(zhí)行高分辨率成像和分析：使用Gemini 2鏡筒，從低束流-低電壓工作條件無縫切換到高束流-高電壓工作條件（或反之）。
? 同時(shí)，可使用多個(gè)探測(cè)器對(duì)任意樣品進(jìn)行多方位表征。
? 利用多功能樣品倉(cāng)進(jìn)行高效分析，還可選擇合適的分析探測(cè)器。
? 在全新的VP模式下，調(diào)高電流，獲得計(jì)數(shù)率達(dá)4000點(diǎn)/秒的EBSD成像。
? 通過兩個(gè)幾何對(duì)稱的EDS端口和共面式EDS/EBSD配置，可以檢測(cè)化學(xué)組分和晶體取向，實(shí)現(xiàn)高速、無陰影的EDS/EBSD成像。
定制自動(dòng)化工作流
? 由于擁有如此強(qiáng)大的分析能力，工作流程的自動(dòng)化便顯得至關(guān)重要。使用蔡司的Python腳本API，可創(chuàng)建并配置屬于您的自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)流程。
? 根據(jù)您的個(gè)性化需求修改實(shí)驗(yàn)流程并量身定制想要的效果。
? 充分利用STEM斷層掃描成像功能：將自動(dòng)傾斜和旋轉(zhuǎn)功能與特征跟蹤功能有效結(jié)合，在將所有對(duì)齊的圖像發(fā)送至專屬三維重構(gòu)軟件后，可構(gòu)建具有納米級(jí)分辨率的三維斷層成像。
? 若需要測(cè)試材料承受極限，蔡司會(huì)為您提供執(zhí)行自動(dòng)化原位加熱和拉伸實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，在實(shí)驗(yàn)過程中，可自動(dòng)為您呈現(xiàn)材料在加熱和拉伸下的情況，并實(shí)時(shí)繪制應(yīng)力應(yīng)變曲線。
為您帶來更多可能性
? 以Gemini 2鏡筒的設(shè)計(jì)為基礎(chǔ)，在用于材料和生命科學(xué)領(lǐng)域時(shí)，超高可調(diào)電流密度條件下的分析能力顯著提升，即使在低電壓條件下亦是如此。
? 您可充分利用各種配件來升級(jí)系統(tǒng)。例如，不僅可以加入分析設(shè)備，還可使用原位實(shí)驗(yàn)設(shè)備、冷凍成像和納米探針設(shè)備對(duì)多功能樣品倉(cāng)進(jìn)行配置。存儲(chǔ)器可讓您連接到實(shí)驗(yàn)室中不同設(shè)備采集的數(shù)據(jù)，從而能夠集中管理項(xiàng)目。
? 在使用設(shè)備期間，可隨時(shí)輕松裝配和升級(jí)各種配置。
? 所有GeminiSEM均加入了蔡司ZEN core生態(tài)系統(tǒng)，通過這項(xiàng)功能，您可訪問ZEN Connect、ZEN Intellesis及ZEN的分析模塊，幫助您生成報(bào)告和實(shí)現(xiàn)GxP工作流程。
充分利用快速分析
任何樣品的全面表征都需要高性能的成像和分析，另外，如今的用戶都希望設(shè)備易于設(shè)置和操作。Gemini 2光學(xué)系統(tǒng)能滿足這些需求。
高分辨率成像與分析可無縫切換
● GeminiSEM 460配備具有雙聚光鏡的Gemini 2光學(xué)系統(tǒng)。
● 連續(xù)調(diào)整電子束的電流強(qiáng)度，同時(shí)優(yōu)化束斑大小。
● 可在低束流的高分辨率成像與高束流的分析模式之間進(jìn)行無縫切換。
● 在更改成像參數(shù)后無需進(jìn)行校準(zhǔn)，省時(shí)省力。
保持靈活，高效工作
? 保持靈活：使用高電子束能量密度在低束流和高束流下進(jìn)行高分辨率成像和分析，不受您選擇的電子束能量影響。
? 樣品不會(huì)暴露于磁場(chǎng)中：實(shí)現(xiàn)了大觀察視野內(nèi)的無失真EBSD圖案和高分辨率成像。
? 樣品傾斜轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)不影響電子光學(xué)系統(tǒng)的性能，磁性樣品也能輕松成像。
? 選擇適合樣品的消荷電模式：局部電荷補(bǔ)償、腔室內(nèi)可變壓力或NanoVP。
三維STEM斷層掃描成像
現(xiàn)在，您可隨心在FE-SEM上進(jìn)行自動(dòng)STEM斷層掃描成像。一個(gè)使用API、用于自動(dòng)采集STEM傾斜系列的腳本可執(zhí)行優(yōu)中心的旋轉(zhuǎn)、載物臺(tái)傾斜移動(dòng)，以及自動(dòng)聚焦和圖像采集。此外，特征跟蹤可補(bǔ)償整個(gè)傾斜系列的偏移，并將兩個(gè)圖像之間的漂移保持在最小值約50 nm。STEM樣品載具允許載物臺(tái)傾斜60°、旋轉(zhuǎn)180°，aSTEM探測(cè)器可涵蓋所有需求。最后，來自高級(jí)重構(gòu)工具包（ART）開發(fā)團(tuán)隊(duì)的三維重構(gòu)軟件利用該輸出渲染出您樣品的三維模型。
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