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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 應用領域 | 綜合 |
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蔡司MultiSEM
超高速掃描電子顯微鏡
充分運用多達91條并行電子束的采集速度，用納米分辨率對厘米級樣品進行成像。這款獨特的掃描電子顯微鏡設計用于全天候連續(xù)、可靠的運行。只需簡單設置高通量數(shù)據(jù)采集工作流，MultiSEM便能自動完成高襯度圖像采集。
l成像速度極快
l自動大區(qū)域圖像采集
l宏觀信息下的納米級細節(jié)
l低噪點高襯度圖像
多條電子束和探測器并行
MultiSEM超高速掃描電子顯微鏡運用了多條電子束（綠色：照明通路）和探測器并行。微調探測通路（紅色）能夠收集大量的二次電子（SE）用于成像。電子束呈六邊形排列，每條電子束在一個樣品位置執(zhí)行同步掃描程序，以此獲得單個子圖像，再通過合并所有圖像拼接生成整幅圖像。并行的計算機設置程序用于快速記錄數(shù)據(jù)，以保證達到高的整體成像速度。在MultiSEM系統(tǒng)中，圖像采集和工作流程控制獨立。
集成化工作流程
用于采集大體積樣品的連續(xù)切片斷層掃描
自動切片
使用ATUMtome自動對樹脂包埋的生物組織進行切片。一天內可收集多達1000個連續(xù)切片。
樣品鑲嵌
將切片膠帶鑲嵌到硅晶圓上，并用光學顯微鏡對樣品進行成像。將晶圓轉移到MultiSEM，使用概覽進行導航并設計您的實驗。
實驗設置
使用單個圖形控制中心即可設置整個實驗。通過高效的自動切片檢測來識別和鎖定感興趣的區(qū)域，從而節(jié)省時間。
蔡司MultiSEM應用案例
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