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| 品牌 | ZEISS/蔡司 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
蔡司GeminiSEM 360
FE-SEM滿足亞納米成像、分析和樣品靈活性的高要求
蔡司GeminiSEM可助您輕松實現亞納米級分辨率的成像。出色的成像和分析技術更使FE-SEM（場發射掃描電子顯微鏡）如虎添翼。我們采用創新的電子光學系統和全新樣品倉設計，不僅操作更加簡便，用途更加靈活多樣，還可為您帶來更高的圖像質量。無需水浸物鏡即可拍攝低于1 kV的亞納米級圖像。探索蔡司Gemini電子光學系統的三種設計：
l分析測試平臺的理想選擇——蔡司GeminiSEM 360
l實現高效分析——蔡司GeminiSEM 460
l表面成像的新標準——蔡司GeminiSEM 560
GeminiSEM 360（場發射掃描電子顯微鏡）是用于您分析測試平臺的理想設備，為材料和生命科學、工業領域提供了有益的功能性。憑借其Gemini1電子光學鏡筒，GeminiSEM 360可為各種應用和樣品類型提供高分辨率成像及分析。
? 高樣品靈活性
? 出色的用戶體驗
? 杰出的拓展能力
高樣品靈活性
? GeminiSEM 360是用于分析測試平臺的理想設備，為材料和生命科學、工業領域提供了有益的功能性。
? 同名的Gemini 1電子光學設計提供表面靈敏的高分辨率圖像，即使在低電壓條件下仍具有出色的分辨率，并在高探針電流條件下提供快速成像。
? Inlens二次電子成像和背散射電子成像可同時收集高分辨率的表面形貌和復合成分襯度信息（對電子束敏感樣品亦是如此）。
? 在低真空條件（即可變壓力）下對絕緣樣品進行成像時，無需犧牲Inlens襯度：NanoVP保證了出眾功能，確保在不受荷電影響的情況下進行Inlens成像。
出色的用戶體驗
? GeminiSEM 360帶來良好的用戶體驗：憑借其寬闊的觀察視野和高度個性化的全新樣品倉，即使在面對超大型樣品時也能輕松檢測。
? 通過蔡司ZEN Connect實現的關聯式成像和關聯顯微技術，讓您暢享無縫導航。
? 使用自動功能（如自動聚焦功能和智能探測器），輕松獲得清晰圖像。
? 幾何對稱設計的EDS端口和共面式EDS/EBSD幾何結構，讓您在執行高效成像和分析工作流程時更加游刃有余。
? 蔡司Predictive Service（預防性維護）可讓您充分利用系統運行時間，盡享隨時進行定期維護的優勢。
杰出的拓展能力
? 系統可不斷升級是保障您的投資的前提條件。因此，GeminiSEM 360也是蔡司ZEN core軟件生態系統中的一員，讓您能夠暢享系統升級的便利。
? ZEN Connect可結合多模態和多尺度數據，ZEN Intellesis用于高級人工智能所支持的圖像分割，ZEN的分析模塊用于報告和分析分割的數據，ZEN數據存儲讓您可以通過連接實驗室中不同設備采集的數據來集中管理項目。
? 作為APEER社區的成員，您可訪問其他用戶創建的工作流和腳本，從而遠程幫助您解決難題。
? 由于提供明確的升級路徑，系統可隨新功能的發布得到進一步提升。
基本原理簡介
FE-SEM專為高分辨率成像設計，性能的一個關鍵是其電子光學鏡筒。Gemini是為實現任何樣品的出色分辨率而特別設計的（尤其在低加速電壓下），可實現完整高效的探測，且操作簡單。
Gemini電子光學系統有以下三個主要特征：
● Gemini物鏡的設計結合了靜電場與電磁場，在大幅提升光學性能的同時大大降低了對樣品的影響。如此也可實現對磁性材料等具有挑戰性的樣品的高品質成像。
● Gemini電子束推進器技術是一種集成光束減速器，確保了小尺寸的電子束斑和高信噪比。
● Gemini Inlens的探測設計原理通過同時探測二次電子（SE）和背散射電子（BSE），大幅縮短到圖像的時間，確保了高效的信號探測。
針對您的應用，可以有以下優勢：
? SEM電子束對準可長期保持穩定，改變探針電流和加速電壓對系統幾乎沒有影響。
? 幾乎無磁場泄露的光學系統可實現無失真高分辨率成像。
? 使用Inlens SE探測器，可通過真正的表面敏感性SE 1電子技術生成圖像，從而只獲得樣品最頂層的信息。
? 使用Inlens EsB探測器的探測設計理念，在非常低的電壓下獲得真實的材料成分襯度。
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